高低溫試驗箱具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。主要針對于電工，電子產(chǎn)品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環(huán)境下運(yùn)輸，使用時的適應(yīng)性試驗。用于產(chǎn)品設(shè)計，改進(jìn)，鑒定及檢驗等環(huán)節(jié)。適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗。對電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下，檢驗其各項性能指標(biāo)。

　　高低溫箱特點(diǎn)：

　　采用圓弧造型及霧面線條處理，高質(zhì)感外觀，并采用平面無反作用把手，操作容易，可靠;

　　全封閉結(jié)構(gòu)，采用強(qiáng)力循環(huán)馬達(dá)，低嗓音冷凍裝置;

　　附有防震臺墊，使得機(jī)臺在運(yùn)轉(zhuǎn)過程中能保持安靜及穩(wěn)定;

　　具有被測試件通電測試功能(負(fù)載測試);

　　采用飛利浦照明窗口燈、內(nèi)置耐高溫除霧裝置，便于觀察箱內(nèi)產(chǎn)品試驗情況;

　　具有多種保護(hù)裝置，性能可靠。

　　高低溫試驗箱參照標(biāo)準(zhǔn):

　　GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫設(shè)備》的要求;

　　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法GB2423.2-89(IEC68-2-2);

　　GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法;

　　GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法;

　　GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗;

　　GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》;

　　GB10592-93《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》;

《所發(fā)布的各款試驗設(shè)備價錢僅為象征性的展示,不能作為實(shí)際價,實(shí)際價錢以歐可儀器業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報價單為準(zhǔn)》